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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的高精度物理性能測(cè)試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)和光散射特性，實(shí)現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)同步測(cè)量，廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。技術(shù)原理：NTA技術(shù)結(jié)合激光散射與視頻顯微技術(shù)，利用納米顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)特性進(jìn)行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運(yùn)動(dòng)軌跡。通過分析擴(kuò)散系數(shù)并結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，可計(jì)算出顆粒的...

激光粒度分布儀是一種利用激光散射原理測(cè)量顆粒大小分布的精密儀器，其核心原理基于米氏散射理論（MieScatteringTheory）——當(dāng)激光束照射樣品顆粒時(shí)，顆粒會(huì)使激光產(chǎn)生散射，散射光的強(qiáng)度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。大顆粒產(chǎn)生前向小角度散射且光強(qiáng)較強(qiáng)，小顆粒則使光散射至更廣泛角度且光強(qiáng)較弱。通過高靈敏度光電探測(cè)器陣列捕獲不同角度的散射光信號(hào)，結(jié)合全Mie散射理論進(jìn)行復(fù)雜計(jì)算，儀器可精確反演出顆粒的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度分布儀的安裝步驟：1、安裝前準(zhǔn)備人員要求：確保安裝...

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線熒光效應(yīng)的高精度元素分析儀器，通過測(cè)量樣品受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線熒光，實(shí)現(xiàn)元素的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線轟擊樣品，使原子內(nèi)層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補(bǔ)時(shí)釋放出特定能量的X射線熒光，該熒光的能量或波長與元素種類一一對(duì)應(yīng)，強(qiáng)度則反映元素含量。X射線熒光光譜儀的主要結(jié)構(gòu)組成：一、X射線源（激發(fā)源）用于產(chǎn)生高能X射線，激發(fā)樣品中的原子發(fā)射特征X射線熒光。X射線管（最常見）：由陰極（燈絲）和陽極（靶材）構(gòu)成。常用靶...

OmniTrust軟件——馬爾文帕納科專為數(shù)據(jù)完整性和21CFRPart11合規(guī)性設(shè)計(jì)的解決方案——現(xiàn)已適用于NanoSightPro納米顆粒跟蹤分析儀。OmniTrust專為在受監(jiān)管環(huán)境中運(yùn)營的制藥實(shí)驗(yàn)室而設(shè)計(jì)，通過擴(kuò)展NSXplorer（NanoSightPro操作平臺(tái)系統(tǒng)）的功能，支持?jǐn)?shù)據(jù)完整性、用戶管理和審計(jì)合規(guī)。審計(jì)管理軟件的加持，幫助NanoSightPro用戶自動(dòng)維護(hù)全面可追溯的測(cè)試記錄，大幅簡化驗(yàn)證流程及監(jiān)管檢查，減輕實(shí)驗(yàn)室管理負(fù)擔(dān)。什么是OmniTrust？...